8 埠向量網路分析儀 (8-Port VNA) 解決方案

本解決方案採用 Analog Devices 創新的 ADL5960 晶片，為 10 MHz 至 20 GHz 的精準 S參數（S-parameter）量測提供精巧、低功耗的多埠解決方案。其大幅縮小體積的模組化設計，能無縫整合至各種全方位射頻測試系統中，滿足多元 RF 應用需求。

圖 1：8 埠向量網路分析儀 (VNA) 系統架構與晶片組合示意圖

核心特色與優勢 (Key Features & Advantages)

詳細規格彙整 (Technical Specifications)

圖 2：8 埠向量網路分析儀核心量測指標分佈圖

目標應用領域 (Target Applications)

■  多通道網路分析 (Multichannel Network Analysis): 適用於天線陣列、MIMO 模組與多埠射頻前端元件之 S 參數快速特性分析。

■  製造端缺陷與結構分析 (Manufacturing Test for Defect & Structural Analysis): 針對產線自動化測試 (ATE)，提供高重現性、高吞吐量的結構驗證與瑕疵篩檢。

■  射頻特性驗證測試 (RF Characterization Test): 精準量測濾波器、放大器、混頻器等射頻元件在寬頻段下的傳輸與反射特性。